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    昊衡科技-OLI測試硅光芯片內部裂紋

    光纖在線編輯部  2023-07-25 17:17:46  文章來源:本站消息  版權所有,未經許可嚴禁轉載.

    導讀:使用OLI測試能快速評估出硅光芯片耦合質量,并精準定位硅光芯片內部裂紋位置及回損信息。

    7/25/2023,光纖在線訊,硅光是以光子和電子為信息載體的硅基電子大規模集成技術,能夠突破傳統電子芯片的極限性能,是5G通信、大數據、人工智能、物聯網等新型產業的基礎支撐。準確測量硅光芯片內部鏈路情況,讓硅光芯片設計和生產都變得十分有意義。

         光纖微裂紋診斷儀(OLI)對硅光芯片耦合質量和內部裂紋損傷檢測非常有優勢,可精準探測到光鏈路中每個事件節點,具有靈敏度高、定位精準、穩定性高、簡單易用等特點,是硅光芯片檢測的不二選擇。

         使用OLI測量硅光芯片內部情況,分別測試正常和內部有裂紋樣品,圖1為耦合硅光芯片實物圖。


    圖1 耦合硅光芯片實物圖


         OLI測試結果如圖2所示。圖2(a)為正常樣品,圖中第一個峰值為光纖到波導耦合處反射,第二個峰值為連接處到硅光芯片反射,第三個峰為硅光芯片到空氣反射;圖2(b)為內部有裂紋樣品,相較于正常樣品在硅光芯片內部多出一個峰值,為內部裂紋表現出的反射。使用OLI能精準測試出硅光芯片內部裂紋反射和位置信息。


    (a)正常樣品、



     
    (b)內部有裂紋樣品

     
    圖2 OLI測試耦合硅光芯片結果


         使用OLI測試能快速評估出硅光芯片耦合質量,并精準定位硅光芯片內部裂紋位置及回損信息。OLI以亞毫米級別分辨率探測硅光芯片內部,可廣泛用于光器件、光模塊損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。

    關于昊衡科技

    一家集研發、生產、銷售于一體的高科技公司,專業從事工業級自校準光學測量與傳感技術開發,也是一家實現OFDR技術商用化的公司。
    目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產品,主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區企業建立良好的合作關系,并取得諸多成果。
    電話:027-87002165
    官網:http://www.mega-sense.com/
    公眾號:“昊衡科技”或“大話光纖傳感”
    關鍵字: 昊衡科技 OLI 測試
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